国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司;上海微迈睿科技有限公司申请一项名为“基于图像的量测方法、装置、电子设备、介质及产品”的专利，公开号CN122223074A，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本申请提供一种基于图像的量测方法、装置、电子设备、介质及产品，涉及半导体技术领域，方法包括：获取待量测图像和模板图像；将其输入训练好的机器学习模型中，得到目标坐标矩阵；目标坐标矩阵用于表示模板图像映射到待量测图像后的变换关系；模型的处理过程包括：获取待量测图像和模板图像对应的特征矩阵，对其进行分块处理，得到多个变换矩阵；基于模板图像中的像素点，对多个变换矩阵进行加权处理，得到目标坐标矩阵；多个变换矩阵对应不同类型的仿射变换所需的参数；基于目标坐标矩阵和模板图像的量测信息，确定待量测图像的量测结果，这样，通过目标坐标矩阵的应用，可以适应复杂的图像形变和特征变化，从而提高了量测结果的精确性。
天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目301次，财产线索方面有商标信息116条，专利信息2204条，此外企业还拥有行政许可88个。
上海微迈睿科技有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海微迈睿科技有限公司参与招投标项目9次，专利信息5条。
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作者：情报员
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